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子元器件老化測試，蒸氣老化試驗箱
湖北高天蒸汽老化試驗箱，蒸汽老化試驗箱適用于子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產業(yè)、子零組件金屬等材料進行老化加速壽命試驗。
蒸汽老化試驗箱標準型號：
產品型號：GT-ZQ-34
內部尺寸：50X40X17 CM （W*H*D）
外部尺寸：60X50X42 CM （W*H*D）
溫度范圍：Upto97℃
控制器：PID微腦控制
加熱方式：PID+SSR
升溫時間：約45分鐘
計時器：9999分
壓：220V
熱（KW）：2
